Một thử nghiệm tình cờ của nhà khoa học gốc Việt Mya Le Thai mở ra triển vọng phát triển pin sạc có độ bền tương đương 400 năm sử dụng.
Từ một thử nghiệm tình cờ trong phòng thí nghiệm, nữ tiến sĩ gốc Việt cùng nhóm nghiên cứu đã phát hiện công nghệ có thể giúp pin sạc duy trì độ bền lên tới 400 năm.